MEU-hartes Design

Betreuer: M.Sc. Florian Deeg

Vortragender: Boyou Wang

Problemstellung: Ein SEU beschreibt einen Soft-Error, der zu kurzzeitigen Fehlsignalen führen kann. Um asynchron SEU-hart zu entwerfen, wird in Dual-rail Logik mit Synchronisation durch ein Bauteil, welches ein Handshaking beider Signale durchführt, gearbeitet. Solche Bauteile sind u.a. das C-Müller Element und der RS-Buffer. SEU-harte Dual-rail Schaltungen sind i.A. nicht MEU (multiple event upset) hart. Um eine MEU-harte Schaltung zu entwerfen, muss zusätzliche Redundanz hinzugefügt werden.

Problemlösung: Es soll eine MEU-harte asynchrone Schaltung entworfen werden, indem in Dual-rail Logik mit zusätzlicher Redundanz entworfen wird.

Durchführung:

• Analyse des Verhaltens des C-Müller Elements & RS-Buffer
• Bearbeitung eines Beispiels und Aufzeigen der Robustheit gegen MEU
• Diskussion über die Notwendigkeit von MEU vs. Platzbedarf/Schaltungsaufwand

Termin: 31.01.2019 11:30 Uhr