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Industrielle Testanwendungen für Integrierte Schaltungen

und Systeme (ITASS)

Allgemeine Informationen

  • Wahlmodul für BPT, EEI ,ME, IuK u. WING ab dem 6. Semester im SS
  • Vorlesung mit Übung: Di., 14:15 - 15:45 Uhr
  • Ort: Seminarraum 01.030 am LZS (Röthelheim-Campus)
  • Bei Interesse bitte Anmeldung im Sekretariat LZS
  • Zeitlicher Umfang: 2 SWS (Vorlesung mit Übung) / ECTS: 2,5
  • Ansprechpartner: M.Sc. Mohamed Denguir
  • Kontakt: Sekretariat LZS 


Inhalt

Die Mikroelektronik ist heutzutage ein unsichtbarer Begleiter unseres Alltags geworden und greift tief in die Strukturen unseres täglichen Lebens ein. Die Abhängigkeit unserer modernen Infrastruktur von dieser Technologie ist inzwischen so groß, zurück völlig undenkbar geworden. So stehen heute Konsumgüter, welche vor wenigen Jahrzehnten noch der Klasse der Luxusgüter angehörten, als preisgünstige Konsumprodukte allgegenwärtig zur Verfügung, was nur dadurch ermöglicht wird, dass Mikroelektronikbausteine in sehr großen Mengen zu niedrigen Kosten produziert werden können. Hochkomplexe Mikrocontroller werden in allen Bereichen der Technik für Regel- und Steuerungsaufgaben eingesetzt, welche einen direkten Einfluss auf die Sicherheit von Leib und Leben haben können. Man denke nur an den Einsatz solcher Bauteile in Kraftfahrzeugen oder in der Luftfahrt. Eine Fehlfunktion kann zu katastrophalen Folgen führen, von dem Menschenleben abhängen. Es ist daher unerlässlich, dass jeder einzelne Baustein nach der Herstellung und vor der Freigabe für den Verkauf intensiv getestet werden muss. Im Hochvolumen kann dies bedeuten, dass von einem einzigen Bausteintyp pro Woche mehrere Millionen Stück getestet werden müssen. Dies ist eine große technische und logistische Herausforderung und erfordert effektive Testmethoden und leistungsfähige Testausrüstung. Der Trend immer mehr Funktionen in einen Baustein zu integrieren und immer mehr Daten in kürzerer Zeit zu verarbeiten, erfordert auch einen Anstieg der internen Arbeitsgeschwindigkeit und führt damit zu höheren Taktraten. Diese sind inzwischen schon weit in den Bereich der Hochfrequenz vorgedrungen, was weit reichende Folgen für den Test mit sich bringt. In der Hochfrequenztechnik, welche in der Vergangenheit weitgehend mit Antennen- und Funktechnik gleichgesetzt wurde, treten Effekte auf, welche in der klassischen niederfrequenten Elektrotechnik weitgehend unbekannt sind.

Gliederung

lzs pfeil Testen von Mikrocontrollern im Hochvolumen

  • Testsysteme
  • Teststrategien
  • Testverfahren

lzs pfeil Auswirkung von Hochfrequenz auf den Testaufbau

  • Hochfrequenzgerechter Entwurf von Loadboards
  • Hochfrequenzeffekte
  • Reflektionen
  • Transformationseffekte

 

 

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