Fehlersimulation für Digitalschaltungen

Betreuer: M.Sc. Tobias Rumpel

Vortragender: Sebastian Sauer

Problemstellung: Um die Qualität von Schaltungen zu bestimmen, werden Schaltungen auf bekannte und anerkannte Fehlermuster getestet. Ziel dieses Testens nach der Herstellung der Schaltung ist damit die Verifikation der Schaltungsstruktur gegen bekannte und anerkannte Fehler. Für solche Testverfahren werden heutzutage im Testentwurf vorab automatisch Teststimuli generiert. Zusätzlich werden diese strukturellen Testmuster aber um zentrale, funktionale Testmuster ergänzt. Diese funktionalen Testmuster müssen vorab durch Simulation validiert werden. Anhand der entsprechenden Simulationsantworten können dann verschiedene Fehlermuster erkannt und klassifiziert werden. Die Stimuli für die an die zu untersuchenden Schaltungen anzulegenden Testmuster und der Vergleich mit den aus diesen zu untersuchenden Schaltungen erhaltenden Testantworten müssen dabei im Detail verstanden sein, die in der Simulation verwendeten Modelle sich dabei ebenfalls auf bekannte und anerkannte Fehlermodelle (Herstellungsfehler) beziehen. Diese zusätzlichen funktionalen Tests geschehen also auch gegen bekannte und anerkannte Fehler. Die Validierung dieser Tests vorab im Entwurf erfordert daher aus ökonomischen Gründen ebenfalls eine hohe Fehlerabdeckung und Prüfschärfe.

Problemlösung: Ziel der Arbeit ist es, sich einen Überblick über die Fehlersimulation zu verschaffen. Insbesondere sind die Testmuster für die Stimulierung der Schaltung (Test Stimuli) sowie die Testmuster für den Vergleich mit den Testantworten der Schaltung (Test Responses) von Interesse.

Durchführung:

Einarbeiten in die Theorie
Entwurfsalgorithmen der true-value-Simulation
Modellieren einer Beispielschaltung für die Testevaluation/li>

Termin: 17.07.2020 13:45 Uhr

LZS