MEU-hartes Design
Betreuer: M.Sc. Florian Deeg
Vortragender: Boyou Wang
Problemstellung: Ein SEU beschreibt einen Soft-Error, der zu kurzzeitigen Fehlsignalen führen kann. Um asynchron SEU-hart zu entwerfen, wird in Dual-rail Logik mit Synchronisation durch ein Bauteil, welches ein Handshaking beider Signale durchführt, gearbeitet. Solche Bauteile sind u.a. das C-Müller Element und der RS-Buffer. SEU-harte Dual-rail Schaltungen sind i.A. nicht MEU (multiple event upset) hart. Um eine MEU-harte Schaltung zu entwerfen, muss zusätzliche Redundanz hinzugefügt werden.
Problemlösung: Es soll eine MEU-harte asynchrone Schaltung entworfen werden, indem in Dual-rail Logik mit zusätzlicher Redundanz entworfen wird.
Durchführung:
- Analyse des Verhaltens des C-Müller Elements & RS-Buffer
- Bearbeitung eines Beispiels und Aufzeigen der Robustheit gegen MEU
- Diskussion über die Notwendigkeit von MEU vs. Platzbedarf/Schaltungsaufwand
Termin: 31.01.2019 11:30 Uhr