TuZ2014

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Programm TuZ 2014

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Sonntag, 23. Februar 2014

17:00-19:00 Registrierung

18:00-20:00 Abendessen
(Kloster Banz - Bierstübla)

20:00-22:00 Fachgruppensitzung Test und Zuverlässigkeit
(Kloster Banz - Seminarraum 9)

 

Montag, 24. Februar 2014

08:00-09:00 Registrierung


09:00-10:00 Eröffnung und eingeladene Vorträge
Moderation: Prof. Dr.-Ing. Walter Anheier, Universität Bremen

Continuing Moore's Law: Continuously Creating Challenges for DfT
J. Alt, Intel Mobile Communications, Neubiberg

Test of HighPower Semiconductor at Automotive Quality
H. Kuhn, Infineon, Regensburg

 

10:00-10:30 Kaffeepause

 

10:30-11:45 Session 1: Debug & Fehlerinjektion
Moderation: Lothar Grobelny, ZMD AG

On/Offline Fault Insertion & Analysis in a Virtual ASIC System Simulation Environment
J. Schmid, M. Eckl, iSyst GmbH, Nürnberg
M. Arabackyj, A. Plange, Conti Temic microelectronic GmbH, Nürnberg

Debug Automatisierung für logische Schaltungen unter Zeitvariation mittels Waveforms
M. Dehbashi, G. Fey, Universität Bremen

Low-Overhead Fault Injection Simulation and Emulation Technique for Embedded Memories
P. Skoncej, IHP Frankfurt (Oder)

 

11:45-13:00 Mittagspause
(Kloster Banz - Alberadasaal)

 

13:00-13:30 Eingeladener Vortrag
Moderation: Michaela Janz, Robert Bosch GmbH

Kombinatorisches asynchrones Design von Elektronik
R. Cremer, Liebherr Elektronik GmbH, Lindau

 

13:30-14:45 Session 2: Kompaktierung & Fehlererkennung
Moderation: Prof. Dr.-Ing. Klaus Hofmann, Universität Darmstadt

Hohe Testmengenkompaktierung durch formale Optimierungstechniken
S. Eggersglüß, K. Schmitz, R. Drechsler, Universität Bremen
R. Krenz-Bååth, Hochschule Hamm-Lippstadt

Detection Conditions for Errors in Self-Adaptive Better-than-Worst-Case Designs
I. Polian, J. Jiang, Universität Passau
A. Singh, Auburn University

Modifizierung des Cross-Parity-Codes
S. Hosp, M. Gössel, Universität Potsdam

 

14:45-16:00 Kaffeepause und Postersitzung
Moderation: Dr. Steffen Rülke, Fraunhofer Institut EAS Dresden

Characterization In-Situ of Diode Detectors for Six-Port Receivers
F. Barbon, S. Lindner, S. Mann, S. Linz, R. Weigel, A. Kölpin, Universität Erlangen-Nürnberg

Virtuelle Dreifach-Auslegung und Selbstreparatur zur Kompensation transienter und permanenter Fehler in Nano-Logik
H. T. Vierhaus, T. Koal, M. Schölzel, BTU Cottbus-Senftenberg

Zur Klassifikation und Diagnose von Testdaten für Analoge und Mixed-Signal Schaltungen
F. R. Rasim, M. Denguir, G. Uygur, S. M. Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg

Test of Alternative LTCC Manufacturing Processes for HF Applications with Realistic Modeling of Thick Film Technologies
A. Talai, R. Weigel, A. Kölpin, Universität Erlangen-Nürnberg

Modellierung und Untersuchung von Races und Metastabilität in digitalen Schaltungen
F. Walter, G. Uygur, S. M. Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg

Verbesserter Strahlenschutz für Satellitenelektronik
G. Schoof, R. Kraemer, V. Petrovic, IHP, Frankfurt (Oder)

 

16:00-16:30 Eingeladener Vortrag
Moderation: Prof. Dr. Michael Gössel, Universität Potsdam

Strukturorientiertes Testen: Stand, Herausforderungen
L. Grobelny, ZMD AG

 

16:30-17:20 Session 3: Selbsttest
Moderation: Prof. Dr. Ronald Tetzlaff, TU Dresden

Zuverlässige selbstheilende drahtlose Sensornetze mit implizitem oder explizitem Redundanzmanagement
R. Kraemer, M. Methfessel, S. Lange, K. Piotrowski, IHP, Frankfurt (Oder)

Erzeugung diagnostischer Software-basierter Selbsttests mit ATPG-Unterstützung
M. Schölzel, T. Koal, H. T. Vierhaus, BTU Cottbus-Senftenberg

 

17:20-18:10 Session 4: Produktionstest
Moderation: Prof. Dr.-Ing. Dietmar Fey, Universität Erlangen-Nürnberg

Ein paralleles Verfahren zum Volumentest von kapazitiven MEMS Sensoren
F. Österle, R. Weigel, A. Kölpin, Universität Erlangen-Nürnberg

Testing 3D Stacked Systems
M. Wahl, A. Grünewald, R. Brück, Universität Siegen

 

19:30-23:00 Abendveranstaltung
(Kloster Banz - Kaisersaal)

 

Dienstag, 25. Februar 2014

 

09:00-10:00 Eingeladene Vorträge
Moderation: Prof. Dr. rer. nat. Rainer Brück, Universität Siegen

High Purity Sine Oscillators for ADC Testing
J. Mejri, Infineon, München

Functional Safety Management und Qualifizierung in der Praxis über die gesamte Projektlaufzeit
S. Schönsmaul, Continental AG, Nürnberg

 

10:00-11:15 Session 5: Sicherheit & Zuverlässigkeit
Moderation: PD Dr.-Ing. Helmut Gräb, TU München

Pre-Layout–Elektromigrations-Analyse zur Berechnung von Layout-Constraints – Bestimmung erforderlicher Leiterbahnbreiten und Vias-Anzahl
W. Vermeiren, R. Jancke, C, Sohrmann, Fraunhofer IIS/EAS, Dresden

Improved Manufacturing Process Level Techniques for Trojan Hardware Insertion with Low Detection Probability
I. Polian, R. Kumar, P. Jovanovic, Universität Passau
W. P. Burleson, University of Massachusetts

Selbstteststrategien für Mikrowellen-Interferometrie zur hoch-genauen industriellen Abstandsmessung
A. Kölpin, S. Mann, S. Lindner, S. Linz, F. Barbon, R. Weigel, Universität Erlangen-Nürnberg

 

11:15-11:45 Kaffeepause

 

11:45-13:00 Session 6: Fehleranalyse & Stresstest
Moderation: Prof. Dr. Jürgen Bäsig, Georg-Simon-Ohm Hochschule Nürnberg

Fehleranalytik an mikroelektronischen Systemen - TiN-Korrosion als Beispiel
K. Burger, Facility Service GmbH, Heilbronn

Liquid-Thermo-Schock Systeme zur beschleunigten Lebensdaueruntersuchung leistungselektronischer Baugruppen
M. Müller, A. Reinhardt, J. Franke, Universität Erlangen-Nürnberg

Modellierung effizienter Stresstest-Umgebungen für virtuelle Prototypen mit SVM
C. Kuznik, W. Müller, Universität Paderborn

 

13:00-14:15 Mittagspause
(Kloster Banz - Alberadasaal)

 

14:15 Schlußwort

 

 

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