ZuE2011

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Programm ZuE 2011

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Dienstag, 27. September 2011

08:00-18:00 Registrierung


09:00-13:00 Tutorial A

Defects, Faults, and Errors – Approaches to Cross-Layer Fault-Tolerance
Tutorial Workshop in the frame of the DFG Schwerpunktprogramm 1500: Dependability of Embedded Systems

M. B. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie
H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart


09:00-13:00 Tutorial B
Moderation:
Ana-Paula Fonseca-Müller, Bosch Reutlingen

Hot Topics in Analog Design Automation for Yield and Reliability
H. E. Gräb, Institute for Electronic Design Automation, Technical University Munich, Germany


13:00-14:00 Mittagspause

 

14:00-18:00 Tutorial C
Moderation:
Melanie Elm, Universität Stuttgart

Technology Trends in VLSI and Impact on Reliability and Test
S. Borkar, Intel Corporation, USA


19:00 Get Together

 

Mittwoch, 28. September 2011

08:00-09:00 Registrierung

 

09:00-10:45 Eröffnung und eingeladene Vorträge
Moderation: Jörg Henkel, KIT; Ulf Schlichtmann, Technische Universität München

The Exascale Challenge
S. Borkar, Intel Corporation, USA

Best Paper Award
Präsentation: S. Sattler, H.-J. Wunderlich

Dependable Computing and Assessment of Dependability
J. Arlat, LAAS-CNRS, Frankreich

 

10:45-11:15 Kaffeepause


11:15-12:15 Sitzung 1: Robustheitsprüfung und Fehlersimulation
Moderation: Ulrich Abelein, Audi Ingolstadt; Ilia Polian, Universität Passau

SystemC-Fehlersimulation auf der Systemebene mit nebenläufig-komparativen Verfahren
W. Lu, M. Radetzki, Universität Stuttgart

Hochoptimierter Ablauf zur Robustheitsprüfung
S. Frehse, F. Hädicke, M. Diepenbeck, G. Fey, R. Drechsler, Universität Bremen

 

12:15-13:30 Mittagspause


13:30-14:15 Eingeladener Vortrag
Moderation: Görschwin Fey, Universität Bremen; Heinz Mattes, Infineon Technologies AG
, Neubiberg

Quality of Test – Fault Models and Test Methods
J. Rajski, Mentor Graphics Corporation, USA

 

14:15-15:15 Sitzung 2: Diagnose
Moderation: Görschwin Fey, Universität Bremen; Heinz Mattes,
Infineon Technologies AG, Neubiberg

Eingebetteter Test zur hochgenauen Defekt-Lokalisierung
A. Mumtaz, M. E. Imhof, S. Holst, H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart

Robuster Selbsttest mit Diagnose
A. Cook (*), S. Hellebrand (+), T. Indlekofer (+), H.-J. Wunderlich (*),
(*) Universität Stuttgart, (+) Universität Paderborn

 

15:15-16:00 Kaffeepause und Postersitzung: Zuverlässigkeitsbewertung
Moderation:
Sebastian Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg

Fast and Accurate Soft Error Rate Estimation at RTL Level
L. Chen, F. Firouzi, S. Kiamehr, M. B. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie

Eine Methodik zur Analyse erhöhter Beanspruchungen von Halbleiterkomponenten und deren AVT hinsichtlich geänderter Anforderungen im Automobil
D. Hahn, S. Straube, A. Middendorf, Fraunhofer IZM, Berlin; H. Lochner, U. Abelein, AUDI AG, Ingolstadt

Recently Updated FIDES 2009 Reliability Prediction Standard Compared to FIDES 2004 and Others for Realistic Failure Rates of Electronic Parts Required for Quantitative Safety Analysis
W. Hoppe, Rheinmetall Technical Publications, Bremen; M. Hoppe, Universität Bremen

Stacking-Based Input Reordering for NBTI Aging Reduction
S. Kiamehr, F. Firouzi, M. B. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie

Variation of Propagation Delay and Power Dissipation in CMOS due to Input Pattern and Technology Scaling
J. Al-Eryani, S. Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg


16:00-16:45 Eingeladener Vortrag
Moderation: Christian Sebeke, Bosch Reutlingen; Friedrich Hapke, Mentor Graphics Hamburg

Fault Injection-Based Assessment of Software Techniques for Hardware Fault Tolerance
J. Karlsson, Chalmers University of Technology, Göteborg, Schweden


16:45-17:45 Sitzung 3: Entwurfsautomatisierung
Moderation: Christian Sebeke, Bosch Reutlingen; Friedrich Hapke, Mentor Graphics Hamburg

XML-basierte hierarchische Beschreibungssprache für 3D-Systeme
A. Heinig, U. Knöchel, S. Wolf, Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen (IIS/EAS), Dresden

ExtraTime: A Framework for Exploration of Clock and Power Gating for BTI and HCI Aging Mitigation
F. Oboril, M. B. Tahoori, Karlsruher Institut für Technologie


19:00-23:00 Abendveranstaltung

Es erwartet uns eine exklusive Hafen-, Elb- und Dinnerfahrt auf der MS HAMMONIA.


Donnerstag, 29. September 2011

09:00-09:30 Eingeladener Vortrag
Moderation: Georg Kodl, Continental, Nürnberg; Markus Olbrich, Universität Hannover

Automating Software Tool Qualification for Design and Test of Safety-Critical Systems
V. Izosimov, Semcon AB


09:30-10:30 Sitzung 4: Kalibrierung und Fehlertoleranz
Moderation: Georg Kodl, Continental
, Nürnberg; Markus Olbrich, Universität Hannover

Mehrstufig kalibrierbare temperaturstabile Referenz
D. Gruber, G. Hilber, T. Ostermann, Johannes Kepler Universität Linz, Österreich

Korrektur transienter Fehler in eingebetteten Speicherelementen
M. E. Imhof, H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart


10:30-11:15 Kaffeepause und Postersitzung: Ausbeute, Verschleiß, Zuverlässigkeit
Moderation:
Sebastian Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg

Eine neuartige Device-Array Teststruktur für statistische Untersuchungen von Degradations- und Relaxationseffekten
C. Schlünder, J. M. Berthold, M. Hoffmann, W. Gustin, H. Reisinger, Infineon Technologies AG, Neubiberg

Kombinierte Codes mit nichtlinearen Prüfbits
G. Nieß, E. Sogomonyan, M. Gössel, Universität Potsdam; T. Kern, T. Rabenalt, Infineon Technologies AG, Neubiberg

Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation
T. Koal, H. T. Vierhaus, BTU Cottbus; M.-S. Beck, Infineon Technologies AG, Neubiberg

SYCYPHOS: Ein Framework zum Entwurf von Cyber Physical Systems
J. Wenninger, K. Gravogl, F. Schupfer, J. Haase, C. Grimm, Technische Universität Wien, Österreich


11:15-12:15 Sitzung 5: Hotspot Detection and Reduction
Moderation: Jochen Rivoir, Verigy Böblingen; Jürgen Scheible, FH Reutlingen

Reduction of Thermal Imbalances and Hot Spots in Networks-on-Chip Using Proactive Temperature Management
T. Wegner, M. Gag, D. Timmermann, A. Uhrmacher, Universität Rostock

A Robust Approach to Reliability Hotspot Detection
H. Melzner, G. Georgakos, M. Hommel, W. Gustin, Infineon Technologies AG, Neubiberg


12:15-13:30 Mittagspause


13:30-15:00 Eingeladene Vorträge
Moderation: NN, Infineon Technologies AG, Neubiberg; Wolfgang Vermeiren,
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen (IIS/EAS), Dresden

Erweiterte Testverfahren für Konsumerprodukte
C. Heer, Intel Mobile Communications

Design Zuverlässiger Systeme: Was kann auf welcher Ebene getan werden?
R. Krämer, IHP GmbH, Frankfurt


15:00-15:30 Pause


15:30-17:00 Sitzung 6: Netzwerke
Moderation: Dietmar Schröder, TU Hamburg-Harburg; Daniel Große, Universität Bremen

Analysis of Failure Detection Methods in Automotive Data Transmission Networks
D. Trombetti (*), S. Frei (+), M. M. Hell (*), D. Metzner (*);
(*) Infineon Technologies, München; (+) Technische Universität Dortmund

Evaluation of Switch-to-Switch Header Flit Protection Schemes in Networks-on-Chip
M. Gag, P. Gorski, T. Wegner, D. Timmermann, Universität Rostock

Fehlertolerantes differentielles Q-Routing für On-Chip-Verbindungsnetzwerke mit beliebiger Topologie
M. Radetzki, Universität Stuttgart


17:00 Schlusswort

 

 

aktuelles

Das Tutorial "Hot Topics in Analog Design Automation for Yield and Reliability" findet leider nicht statt. Registrierungen für die Tagung können auch noch vor Ort erfolgen . . .

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