Planung und Durchführung experimenteller Betrachtungsweisen des JTAG TAP Controllers nach IEEE 1149.1 Standard als determinierter Mealy-Automat vom Typ Neu und Typ Alt an geeigneter Hardware unter zu Hilfenahme eines ATE, wie er zu industriellen Testzwecken verwendet wird.

Betreuer:  Dipl.-Inf. Gürkan Uygur

Vortragender: Willschek, Christian

Motivation:

Seit Jahrzehnten hat sich in der Industrie der IEEE 1149.1 Standard für Testzwecke etabliert. In nahezu allen Digitalen Bauelementen ist ein nach diesem Standard entworfener Test Access Point (TAP) integriert. Da dieser Standard als universelles Testwerkzeug entwickelt wurde, ist seine Struktur und Aufbau zunächst klar definiert, skalierbar und vielfältig anwendbar. Dennoch ergibt sich in der Praxis die Fragestellung, wann ein bestimmter Zustand aus dem Automaten zu erwarten ist. Ausgehend davon lässt sich das Problem auf die Darstellung des TAP Controllers als Mealy-Automat abstrahieren. In einem weiteren Schritt kann die Frage nach dem Zeitpunkt der Zustandsänderung mit Hilfe der Betrachtung des Automaten als Typ Neu oder Typ Alt beantwortet werden. In Abhängigkeit dieser Betrachtung ist in der Praxis dann die Konfiguration einer Testmaschine zu wählen. Diese Testmaschinen arbeiten sequenziell und in Echtzeit. Sie entscheiden je nach Konfiguration und Erwartungswert über Pass oder Fail des zu testenden Bauteils. Darum ist das Wissen über den genauen Zeitpunkt der Zustandsänderung und wann man diesen Zustand abfragt von essentieller Bedeutung.

Aufgabenstellung:

• Der Student erarbeitet sich aus den Definitionen der möglichen determinierten Automaten Betrachtungsmodelle, die auf den JTAG TAP Controller nach IEEE 1149.1 angewendet werden sollen.
• Anschließend soll ein Demonstrator entwickelt werden, der die Vorhergesagten Phänomene anschaulich macht. Hierfür stehen ihm geeignete µC und der sich am Lehrstuhl befindliche ATE der Firma Advantest zur Verfügung.

Termin: 24. Juni 2014 14:45 Uhr