Fehler und Defekte modellieren
Betreuer: Dipl.-Ing. Farouk Babba
Vortragender: Zixuan Yu
Problemstellung: Digitale Bausteine werden heutzutage immer komplexer. Sie bestehen aus einer enormen Anzahl von Gattern. Bei der Fertigung dieser Bausteine können Fehler auf Grund verschiedenster Faktoren entstehen. Testobjekte sollen nun auf Defekte überprüft werden. Es gibt verschiedene Arten von Fehler, wie strukturelle und funktionale Fehler. Um solche Fehler zu finden, muss eine Vorstellung des Fehlers konkretisiert werden, man entwickelt ein Fehlermodell. Dieses Modell dient dazu, die Analyse der Schaltung durchzuführen sowie die richtigen Testvektoren zu finden und zu bewerten. Auf Grundlage dieses Modells wird die Fehlerabdeckung als Prozentsatz der erkannten Fehler definiert. Die Fehlerabdeckung bestimmt die Anzahl der Fehler, die durch eine vorgegebene Anzahl von Testvektoren effizient erfassen werden können. Um nun mit diesen Modellen zu arbeiten, werden Programme entwickelt, die eine Liste von Fehlern erzeugen. Die Ergebnisse hängen dann natürlich von genau dem Modell, das für die Fehlererzeugung verwendet worden ist, ab.
Problemlösung: Ziel dieser Arbeit ist, die möglichen Fehlermodelle für digitale Schaltungen zu untersuchen und zu erläutern. Die Unterschiede sowie die Vorteile dieser Fehlermodelle sollen diskutiert und gegeneinander abgewogen werden. Wie kann man z.B. die Anzahl der Testvektoren reduzieren, um damit Zeit und Kosten zu sparen? Als praktisches Beispiel soll ein Fehlermodell in einem Simulationsprogramm implementiert werden, um einen beispielhaften Fehler beobachten zu können.
Durchführung:
- Einarbeitung in mögliche Fehlermodelle
- Unterschiede erläutern
- Vor- und Nachteile gegeneinander abwägen
- Fehlersimulation durchführen (als Beispiel)
Termin: 31.01.2019 10:45 Uhr