Test Kompression und Dekompression Methoden

Betreuer: Dipl.-Ing. Farouk Babba

Vortragender: Bechir M'Rad

Problemstellung: Testzeit ist eine der wichtigsten Testressourcen bei der Prüfung von komplexen Chips. Die Masse der anfallenden Testdaten ist ein großes Problem bei der Prüfung von Ein-Chip-Systemen. Diese Testdaten können nicht nur den Speicher und die Testkanäle des ATE (Automatic-Test-Equipment) überschreiten, sondern auch die Testkosten durch höhere Testzeiten in die Höhe treiben. Die Testkosten sind vom Testdatenvolumen, von der maximalen Scanlänge und von der Zeit für die Übertragung der Testdaten vom ATE zum DUT (Device-Under-Test) abhängig. Diese Zeit ist von der ATE-Testdatenbreite und der Anzahl der Testerkanäle abhängig. Für spezifische ATE Kapazitäten und Bandbreiten von Testerkanälen ist es möglich, durch verschiedene Techniken, die Testzeit zu reduzieren. Eine dieser Techniken heißt Testkompression. Mit der Methode werden die Anzahl der Bits pro Testvektor reduziert.

Problemlösung: Es soll in dieser Arbeit die Kompression- und Dekompressionsmethoden diskutiert und erläutert werden, die möglichen dafür verwendeten Algorithmen definiert und in einer Struktur eingearbeitet werden.

Durchführung:

Kompressions- und Dekompressionsmethoden theoretisch studieren
Mögliche Strukturen und Algorithmen untersuchen und darstellen
Unterschiede zwischen verschiedene Kompressionsmethoden herausfinden

Termin: 31.01.2019 10:00 Uhr

LZS